Ausfall-, Fehler- und Zuverlässigkeitsanalysen

Zur Erstellung von Ausfall- und Fehleranalysen stehen diverse Methoden und Verfahren zur Verfügung, welche in der Industrie etabliert und weit verbreitet sind. Dabei handelt es sich sowohl um qualitative Verfahren wie zum Beispiel FMEA und FMEDA, als auch um quantitative Methoden wie die Erstellung von Fehlerbaumanalysen oder Zuverlässigkeitsblockdiagrammen, die - je nach Szenario - zum Einsatz kommen können. Wir orientieren uns dabei unter anderem an folgenden Normen:

DIN EN 61025

• Fehlzustandsbaumanalyse       
  

DIN EN 60812

• Analysetechniken für die Funktionsfähigkeit von Systemen – Verfahren für die Fehlzustandsart- und -auswirkungsanalyse (FMEA)  

Wir führen Ermittlungen von Ausfallraten und Lebensdauerwahrscheinlichkeiten durch. Oftmals sind solche Analysen sowohl während der Entwicklung von Systemen und Komponenten, als auch bei der Zulassung notwendig. Je nach Anwendungsgebiet und Branche stehen hierfür entweder relativ spezifische Datensammlungen mit genauen Bauteilkennwerten zur Verfügung, jedoch gibt es auch allgemein anwendbare Normen und Richtlinien, die für solche Berechnungen als Grundlage dienen können. Im Folgenden ist eine Auswahl an Verfahren gegeben, nach welchen wir solche Analysen durchführen:

MIL-HDBK-217F

• MILITARY HANDBOOK: Zuverlässigkeit von elektrischen Bauelementen           
  

OREDA

• Offshore und Onshore Zuverlässigkeitsdaten      
  

SN 29500

• Zuverlässigkeitsdaten         
  

NPRD

• Zuverlässigkeit von nichtelektronischen Bauelementen           
  

IEC TR 62380

• Zuverlässigkeitsdatensammlung - Universelles Modell für die Zuverlässigkeitsvorhersage von Elektronikkomponenten, Leiterplatten und Geräten           
  

IEC 61709

• Elektrische Komponenten - Zuverlässigkeit - Referenzbedingungen für Fehlerraten und Belastungssmodelle für die Konvertierung           
  

NSWC-10

• Handbuch der Zuverlässigkeit - Prozeduren zur Zuverlässigkeitsvorhersage von mechanischen Bauelementen           
  

Fides Guide

• Zuverlässigkeitsvorhersage von elektronischen Bauelementen